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PCB背钻检测催生X射线需求:3D AXI检测设备供应商梳理 ...
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PCB背钻检测催生X射线需求:3D AXI检测设备供应商梳理
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一. 驱动逻辑
背钻是高速PCB制造中的关键工艺,用于去除多层板通孔中未参与层间互联的铜柱残段,以减少信号反射和衰减。
当前背钻工艺尚未完全成熟,良率远低于其他环节;且随着PCB层数、背钻深度增加,工艺难度仍在上升。
随着M8/M9 CCL材料价格持续上涨,检测前置成为PCB厂商降本刚需:在背钻完成后立即拦截不良品,节省后续加工成本。
背钻检测的核心是三维尺寸测量,3D AXI设备采用分层CT成像技术,是目前唯一能满足背钻检测要求的技术手段。
二.背钻检测环节
PCB核心工序:开料→内层图形转移→内层蚀刻→压合→通孔钻孔→沉铜→电镀→背钻→孔壁处理→外层图形转移→外层蚀刻→阻焊→表面处理→成型→电测试→终检。
背钻检测在背钻工艺完成后立即进行,位于PCB制造流程的电镀后、外层图形转移前:
此时PCB表面无阻焊层覆盖,X射线穿透性最好;检测结果可反馈给背钻工序,实时调整钻孔参数,提升良率;及时拦截节省后续成本。
三.3D AXI检测设备概览
AXI(自动X射线检测)是利用X射线穿透物质的能力,通过探测器接收并转化为数字图像,从而检测物体内部结构缺陷的无损检测技术。
3.1 AXI分类
(1)2D AXI:单一方向X射线透射,只能检测平面缺陷(如孔有无、明显偏心、大尺寸空洞)。
(2)3D AXI:X射线源与探测器同步旋转,多角度扫描后重建三维图像,可检测所有三维缺陷(如残桩长度、孔深、孔壁粗糙度、铜环完整性)。
3.2 3D AXI特点
(1)结构:微焦点X射线源(产生X射线)、平板探测器(接收X射线并转化为数字图像)、精密运动平台(度角度旋转)、图像处理系统。
(2)耗材属性:核心部件需定期校正更换,包括X射线源、探测器等。
(3)应用场景:PCB制造(背钻检测、内层缺陷检测、BGA焊点检测)、半导体封装(芯片键合检测、封装空洞检测)。
3.33D AXI市场格局
全球3D AXI设备85%市场被Viscom(德)、欧姆龙(日)、诺信(德)主导, 2026-2027年产能已提前锁定,国内厂商迎来替代窗口期。
日联科技:工业X射线检测设备国内龙头,3D AXI设备已批量供货头部PCB厂商;收购菲莱测试布局光通信检测设备。
奕瑞科技:3D AXI设备零部件供应商,产品覆盖平板探测器、X射线源和高压发生器,并推出PCB背钻检测平面CT系统。
矩子科技:PCB+SMT机器视觉设备厂商,产品覆盖3D AOI、3D SPI、3D AXI检测设备等。
思泰克:3D机器视觉检测设备供应商,3D SPI(锡膏印刷检测设备)国内市占率第一,3D AXI设备预计26年底前投放市场。
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